?盡管2D射線檢測平面檢測簡單且有效，但有時可能會出現偏差。3D工業CT無損檢測成像為研發人員提供了更為直觀的檢測結果，提高了電池的研發效率和性能。

其中，X射線顯微鏡技術如蔡司的Xradia Versa系列，可以實現電池內部的高分辨率3D工業CT無損檢測成像，分辨電極顆粒與孔隙、隔膜與空氣等，可以大大簡化流程，節省時間。

在此基礎上，蔡司推出的4D微觀結構演化表征方法，可以獲得更多信息，提供更微小的細節特征。

當需要進一步高分辨率分析時，新一代聚焦離子束（FIB）技術成為首選。FIB結合SEM，允許樣品在納米級別進行精細加工和觀察。蔡司和賽默飛均已推出相關顯微鏡產品。